HI PLAN 物鏡可在兩個波長范圍內提供出色的色差校正性能，并且確保整個視場的平坦度。甚至圖像的邊緣也很清晰，無需重新聚焦。HI PLAN 物鏡的視場 (OFN) 可達到25毫米，并提供相差型號。徠卡 HI PLAN 物鏡提供出色的校正性能，并且性價比非常高。

N PLAN 物鏡進一步加強了消色差，具有最大25毫米的出色視場平坦度。N PLAN 適用于透射光和 DIC 應用，N PLAN PH 用于相差顯微鏡。N PLAN EPI 物鏡適合入射光應用，包括微分干涉對比應用 (DIC)。N PLAN EPI BD 型號也可以用作暗場物鏡。N PLAN EPI 入射光物鏡提供出色的圖像對比度和安全的工作距離。

FL PLAN 物鏡是新一代通用型物鏡，具有出色的色差校正性能和最大25毫米的視場平坦度 (OFN) 。FL PLAN 物鏡采用優良的鍍膜技術，針對熒光應用有很高的透射率。可實現所有的相差方法。FL PLAN 物鏡針對熒光、相差和 微分干涉觀察模式進行了優化。

PL FLUOTAR 是性能*的通用物鏡，至少在三種波長范圍內具有出色的色差校正性能，適用于熒光成像。計算25毫米視場的視場平坦度 (PL)。這類物鏡采用特種玻璃制成，可實現最大透射率。因而成為熒光顯微鏡中性能*的光子收集器。徠卡 FLUOTAR 系列配有各種應用優化的校正環 (CORR)，可以補償外部影響，如溫度、蓋玻片厚度和浸漬介質。

PL APO 物鏡——高級的專業等級物鏡。這類物鏡可提供傳統物鏡無法達到的成像質量。平場復消色差物鏡為需要快速色度變化和結構共定位的應用提供軸向和橫向色度匹配。PL APO 物鏡可提供最大25毫米的無瑕疵像場平坦度。較高的數值孔徑確定了物理上可達到的極限分辨率。

PL APO 物鏡在可見光波長范圍內得到校正，現在，PL IRAPO 物鏡是一套新的用于改進多光子成像（MP）的專用物鏡。紅外復消色差物鏡在從至少700納米到1300納米的范圍內得到色差校正，在可見光和紅外波長范圍內具有高透射率，470-1200納米范圍內的透射率大于85%。因此，這類物鏡非常適合非線性成像，如多色多光子成像，包括OPO（光學參量振蕩器）和 CARS（相干反斯托克斯拉曼散射光譜儀）激發。

在復消色差物鏡產品類別中，徠卡提供專為匹配共聚焦掃描 (CS) 的最高規格而設計的 PL APO 物鏡。最新的 PL APO CS2 系列在先前的 CS 系列基礎上做了進一步的改進。新型徠卡 CS2 物鏡能夠在整個視場范圍內進行色差校正，可實現不同熒光團的精確共定位。此外，數值孔徑和自由工作距離也達到新的極限。徠卡 CS2 物鏡的設計隨著徠卡 TCS SP8 和 STELLARIS 平臺的創新紫外光學器件共同發展，以提供穩定的紫外色差校正性能。為了在活細胞等含水樣本中實現無像差成像，徠卡顯微系統開發了一系列高分辨率水浸物鏡。為了獲得優良成像結果，這些物鏡需要配置一個校正環，使各光學器件適應不同的蓋玻片厚度、溫度變化和樣本不均勻性。

手動調節校正環需要一定的時間和經驗，而且因其他設備而無法直接接觸物鏡時，手動調節有很大難度。徠卡 motCORRTM 物鏡的電動校正功能簡化了校正環的調節，并減少了相關培訓工作量。徠卡 motCORRTM 物鏡的遙控器可以快速調節光學器件，且不會干擾樣本。

針對某些特殊樣品的觀察，對顯微鏡頭的技術要求很高，通常需要使用專門優化的物鏡。徠卡顯微系統針對這類應用提供廣泛的專用物鏡選擇。

例如：

• 高數值孔徑的 TIRF 全內反射物鏡

• 適用于激光顯微切割的紫外 350 納米高透射率物鏡

• 適用于重要腦切片膜片鉗應用的專用物鏡，能夠通過惰性材料浸漬物鏡測量單個離子通道

• 用于（活體）組織深層神經元組織切片生物學結構可視化的紅外優化多光子物鏡

• 色差校正性能得到改進優化后可同時使用 405 納米和可見光到深紅波長激發的物鏡。

• 與 DLS TwinFlect 反射鏡蓋兼容，適用于數字光片 (DLS) 檢測的物鏡。

• 適用于納米顯微鏡的 STED WHITE 專用物鏡：這些專用物鏡具有出色的色差校正性能，可確保整個可見光譜范圍內激發和 STED PSF 的優良疊加。

• 具有合適的樣本介質折射率的水、甘油和多浸漬物鏡，可用于較厚樣本的無像差成像

• 徠卡自動水鏡加水器可在實驗過程中自動提供水浸